产品搜索
文章详情
所在位置: 首页> 技术文章> 露点仪>

英国SHAW便携式露点仪SDHmini:半导体制造的“湿度控制卫士”

日期:2026-01-30 15:52
浏览次数:0
摘要: 半导体制造是精密工艺与严苛环境控制的结合体,生产过程中气体湿度的微小波动都可能引发晶圆表面氧化、颗粒污染或化学气相沉积(CVD)工艺失效,导致产品良率下降甚至整批次报废。英国SHAW公司推出的SDHmini便携式露点仪,凭借其超高精度、快速响应及半导体行业专用设计,成为保障无尘室气体湿度稳定、提升芯片制造良率的“核心工具”。 技术内核:纳米级湿度控制的“精密标尺” SDHmini的露点测量范围覆盖-100℃至+20℃,分辨率达0.1℃,准确度±2℃,可精准捕捉半导体工艺气体中ppb(十亿分...

半导体制造是精密工艺与严苛环境控制的结合体,生产过程中气体湿度的微小波动都可能引发晶圆表面氧化、颗粒污染或化学气相沉积(CVD)工艺失效,导致产品良率下降甚至整批次报废。英国SHAW公司推出的SDHmini便携式露点仪,凭借其超高精度、快速响应及半导体行业专用设计,成为保障无尘室气体湿度稳定、提升芯片制造良率的“核心工具”。



技术内核:纳米级湿度控制的“精密标尺”

SDHmini的露点测量范围覆盖-100℃至+20℃,分辨率达0.1℃,准确度±2℃,可精准捕捉半导体工艺气体中ppb(十亿分之一)级的水分含量变化。其肖氏超高电容氧化铝传感器采用纳米级孔隙结构,对水分子具有超高选择性,避免与工艺气体中的其他成分(如硅烷、氨气)发生交叉干扰。配合干燥剂舱室自动净化技术,传感器在每次测量前自动排除环境空气冷凝影响,确保数据真实性。此外,仪器内置抗电磁干扰模块,可抵御无尘室内高频设备产生的电磁噪声,保障测量稳定性。

半导体场景应用:从晶圆制造到封测的全流程防护

光刻工艺气体净化
在极紫外光刻(EUV)或深紫外光刻(DUV)中,高纯氩气或氦气需严格控湿(露点≤-80℃),以防止光刻胶吸潮导致图形畸变。SDHmini可实时监测气体供应管路的露点,确保湿度符合SEMI标准,避免晶圆报废。

化学气相沉积(CVD)控制
在硅晶圆镀膜过程中,若反应气体(如硅烷、氮化硅)含水量超标,会导致薄膜结晶缺陷或颗粒污染。通过SDHmini监测气体露点,可动态调整干燥装置参数,将水分含量稳定控制在≤1ppb,提升薄膜均匀性。

封装环境湿度验证
在芯片封装环节,惰性气体(如氮气)的湿度需控制在≤-60℃露点,以防止潮气侵入引发焊点腐蚀或分层。SDHmini的便携性使其可快速完成封装腔体、手套箱等密闭空间的湿度验证,缩短设备换气时间。

洁净室专用设计:适应半导体生产的严苛环境

SDHmini外壳采用316L不锈钢材质,通过IP66防护认证,可耐受无尘室常用的异丙醇清洗、臭氧**及低粉尘环境。其全彩色LCD屏幕支持手套操作模式,菜单逻辑符合SEMI E10标准,数据记录可追溯至操作人员与时间节点。30万点数据存储容量与蓝牙/USB传输功能,使得现场检测数据可直接对接工厂MES系统,实现湿度异常的实时报警与工艺参数联动调整。

案例实证:某晶圆厂的良率跃升

12英寸晶圆厂曾在CVD工艺中遭遇薄膜缺陷率超标问题,经排查发现反应气体露点波动导致水分混入。引入SDHmini后,通过在气体供应管路、干燥塔出口等关键节点部署监测点,企业将气体露点稳定控制在-85℃以下,薄膜缺陷率下降90%,年减少良率损失超5000万元。

在半导体制造“微米级精度决定成败”的竞争格局下,英国SHAW便携式露点仪SDHmini以技术精准性、场景适配性与智能化能力,成为贯穿晶圆制造全流程的“湿度控制**”。它不仅是保障产品良率的“隐形盾牌”,更是推动工艺优化、提升国际竞争力的“关键引擎”。

    • 产品类型与功能
      • 产品类型:SDHmini便携式露点仪
      • 功能:快速测量露点并追踪微量水分含量,为工业应用提供可靠结果        
    • 物理特性
      • 外壳材料:包含水分传感器、干燥剂舱室、气体样品口、信号调理电路、存储管理、彩色大LCD屏幕        
      • 尺寸:97mm (宽) x 147mm (深) x 211mm (高,干燥头伸出为259mm)        
      • 重量:<1.75kg        
      • 防水分类:IP66/NEMA 4X        
    • 电源与电池
      • 电池类型:机载可充电锂电池
      • 电池寿命:连续操作150小时
      • 充电时间:12小时        
    • 显示与操作
      • 显示屏:全彩色大LCD屏幕,分辨率320 x 240(24 bits)        
      • 操作语言:支持10种语言(英语、德语、法语、西班牙语、葡萄牙语、俄罗斯语、意大利语、汉语、日语、韩语)        
      • 菜单显示:直观简单        
    • 测量参数
      • 测量范围:
        • 紫色传感器:-100℃ - 0℃露点,0-6000ppm(v)
        • 银色传感器:-100℃ - -20℃露点,0-1000ppm(v)
        • 灰色传感器:-80℃ - 0℃露点,0-6000ppm(v)
        • 红色传感器:-80℃ - -20℃露点,0-1000ppm(v)
        • 蓝色传感器:-80℃ - +20℃露点,0-23000ppm(v)
      • 准确度:±2℃露点        
      • 分辨率:0.1℃露点或0.1ppm(v)        
      • 重复性:优于±0.2℃露点        
      • 反应时间:
        • 潮湿至干燥:-10℃ - -60℃,<120s
        • 干燥至潮湿:-100℃ - -20℃,<20s        
    • 数据记录与传输
      • 数据记录能力:*多300,000个数据点
      • 数据传输:通过USB和蓝牙传输给PC并打印
      • 实时记录与图形化显示:支持        
    • 校准与维护
      • 自动校准(AutoCal):传感器设计有自动校准功能,减少停机时间和校准费用        
      • 校准证书:提供校准证书,可通过国家和国际标准查询        
    • 环境适应性
      • 操作温度:-20℃ - +50℃        
      • 保存温度:-30℃ - +70℃        
      • 操作湿度(外部):*大-95% RH,无冷凝        
      • 操作压力:*大0.3bar / 4psi        
    • 传感器保护
      • 传感器保护:316不锈钢烧结过滤器,-50μm        
    • 订购信息
      • 类型选择:根据露点范围选择(紫色、银色、灰色、红色、蓝色)
      • 样品连接:指定入口连接类型和尺寸
      • 电源类型:根据使用地区选择(英国型、美国型、欧盟型、澳大利亚型、韩国型、阿根廷型、印度型、中国型、巴西型、南非型)        
在线露点仪Superdew3肖氏露点传感器|露点仪厂家露点仪批发|在线露点仪压缩冷镜露点仪DewMaster|Mocon透氧仪|膜康透湿仪|PBI顶空分析仪|空气露点仪COM.AIR||露点仪变送器SDT-EX|在线露点仪||肖氏露点仪|膜康透湿仪|顶空分析仪|药品残氧仪|露点仪品牌|冷镜露点仪DewTrace肖氏露点仪|露点仪价格在线露点仪压缩空气露点仪|SADP露点仪||压缩空气露点仪便携式露点仪SDHmini-Ex冷镜露点仪DewTrak II



沪公网安备 31011402005049号