美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace：NIST可追溯的湿度校准利器
在精密测量领域，湿度的准确控制与测量是确保产品质量、提升科研精度的关键环节。美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace，凭借其稳定的性能和广泛的动态范围，成为了计量与校准实验室中不可或缺的测量工具，特别是作为主要方法、NIST可追溯的测量标准，为其他湿度测量设备的校准提供了可靠保障。
美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace基于Edgetech Instruments成熟的DewMaster平台，搭载了创新的X3冷镜传感器，结合先进的成核技术，能在极短时间内达到极低的霜点，覆盖从环境湿度到-95°C霜点甚至更低的广泛测量范围。
这一特性使得美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace在需要高精度湿度测量的场合中脱颖而出，无论是半导体生产监控、制药质量测试，还是航空航天、环境科学研究，都能提供稳定可靠的测量数据。
尤为值得一提的是，美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace不仅具备高精度，还融入了自动平衡控制（ABC）技术和自补偿LED传感器光学系统，实现了自动校准功能，大大降低了人为操作误差，提升了测量效率。同时，其内置的加热器设计，使得传感器能快速干燥，适应高温露点测量需求，进一步拓宽了应用范围。
作为NIST可追溯的测量工具，美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace在计量与校准实验室中扮演着至关重要的角色。
它能够提供符合国际标准的湿度测量数据，确保其他湿度测量设备校准的准确性和可追溯性，为各行各业的质量控制和研究开发提供了坚实的技术支撑。
此外，美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace还具备丰富的输出选项和用户友好的界面设计，包括4至20 mA、0至5 Vdc、RS-232、蓝牙及数据记录等功能，方便用户根据实际需求进行数据采集和分析。其紧凑的台式设计和宽范围的操作温度，也使得美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace能够适应各种实验室和工业环境。
美国EdgeTech公司的美国EdgeTech高精度冷镜露点仪DewTrace高精度冷镜露点仪，以其稳定的性能、广泛的适用性和NIST可追溯性，成为了湿度测量领域的佼佼者，为提升测量精度、保障产品质量提供了有力支持。
美国EdgeTech公司的DewTrace冷镜露点仪是一款高精度、快速响应且功能**的实验室标准级露点/霜点湿度计，其核心参数包括：采用ISO/IEC 17025:2017认证与ISO 9001:2015注册的X3冷镜传感器（分X3LC液冷型与X3CC液冷型），霜点测量范围覆盖-75°C至-90°C（*低可达-95°C及以下）及0-95%RH环境湿度，标配精度±0.2°C（可选±0.1°C），压力测量精度±0.5%满量程，响应速度通过创新冰核生成技术实现分钟级低霜点稳定，传感器材料采用耐化学腐蚀的316不锈钢、铬合金及玻璃结构，支持0.5-5.0 SCFH样气流量，操作温度范围控制单元-10°C至60°C/传感器-40°C至100°C，输出接口包含4-20mA、0-5Vdc、RS-232及蓝牙无线通信，配备8行LCD图形显示屏与自动平衡校准系统（ABC），整机重12.5kg，尺寸28cm×29cm×54cm，适用于计量校准实验室、半导体生产监控、航空航天及高纯度焊接等严苛环境的痕量水分测量
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