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晶圆厂的"洁净哨兵"英国SHAW SADP-D便携露点仪如何把控半导体超纯气体品质

日期:2026-05-21 05:51
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摘要: 在半导体制造过程中,高纯氮气、氩气等洁净气体被广泛应用于晶圆清洗、刻蚀、沉积等关键工艺环节。这些气体中哪怕含有微量水分,都可能在芯片表面形成氧化层或引发缺陷,直接影响良率和产品可靠性。因此,对洁净气体进行ppm级超低露点监控,是半导体厂气体品质管控中不可忽视的环节。英国SHAW SADP-D便携式露点仪,凭借灰(G)传感器对-80°C至0°C露点范围的覆盖,成为半导体厂洁净气体现场露点抽检的实用工具。 灰传感器精准匹配半导体洁净气体需求 半导体制造中使用的高纯氮气和氩气,露点通常要求...

在半导体制造过程中,高纯氮气、氩气等洁净气体被广泛应用于晶圆清洗、刻蚀、沉积等关键工艺环节。这些气体中哪怕含有微量水分,都可能在芯片表面形成氧化层或引发缺陷,直接影响良率和产品可靠性。因此,对洁净气体进行ppm级超低露点监控,是半导体厂气体品质管控中不可忽视的环节。英国SHAW SADP-D便携式露点仪,凭借灰(G)传感器对-80°C至0°C露点范围的覆盖,成为半导体厂洁净气体现场露点抽检的实用工具。


灰传感器精准匹配半导体洁净气体需求

半导体制造中使用的高纯氮气和氩气,露点通常要求控制在-40°C甚至更低,对应水汽浓度在ppm级别。SADP-D提供五种传感器可选,其中灰(G)传感器覆盖-80°C至0°C露点范围,对应0至6,000 ppm(v)的水汽浓度,能够覆盖半导体洁净气体的超低露点监控场景。灰传感器精度可达±3°C至±4°C露点,分辨率0.1°C,重复性优于±0.5°C露点,能够准确捕捉洁净气体中的微量残余水分。4位液晶显示屏支持°C和°F自由切换,现场读数清晰直观,便于洁净室操作人员快速判读。

干燥剂头技术,多工艺段快速抽测

半导体厂洁净气体管路分布广泛,从气体站到各工艺机台需要经过多个分配节点。操作人员需要在不同工艺段之间频繁移动检测。SADP-D采用独特的干燥剂头设计,传感器在两次测试之间始终保持干燥状态。操作人员从一个检测点移动到下一个时,无需等待传感器干燥或重新预热,开机5秒即可完成预热,拿起仪器即可对洁净气体进行快速抽查。干燥室两侧的进出气口确保样品气体充分净化后才接触传感器,测量结果更快速、更可靠。

本质安全认证,特殊气体环境安心使用

半导体厂部分区域涉及易燃特种气体,对检测仪器的防爆性能有严格要求。SADP-D通过ATEX II 1 G Ex ia IIC T6 Ga和IECEx Ex ia IIC T6 Ga双重本质安全认证,防护等级达IP66/NEMA 4X,无需任何附加防爆配件即可在相关区域直接使用。这意味着操作人员可以携带仪器直接进入气体站和工艺区,对高纯氮气、氩气出口进行露点现场检测。

自动校准与超长续航,降低运维负担

半导体厂气体检测频次高,仪器需频繁开机使用。SADP-D内置自动校准功能,操作人员只需将传感器暴露在大气中,通过正面电位器即可完成校准,无需专业人员和特殊设备。6节"C"型电池供电,连续运行超过150小时,大幅减少了巡检期间的充电频次。出厂校准证书可追溯至国家物理实验室(NPL),数据具有权威性。

SADP-D以灰传感器覆盖半导体洁净气体超低露点监控需求、以干燥剂头技术实现多工艺段快速抽测、以本质安全认证适配特殊气体环境,是半导体厂高纯气体露点现场监控的可靠之选

在半导体制造过程中,高纯氮气、氩气等洁净气体被广泛应用于晶圆清洗、刻蚀、沉积等关键工艺环节。这些气体中哪怕含有微量水分,都可能在芯片表面形成氧化层或引发缺陷,直接影响良率和产品可靠性。因此,对洁净气体进行ppm级超低露点监控,是半导体厂气体品质管控中不可忽视的环节。英国SHAW SADP-D便携式露点仪,凭借灰(G)传感器对-80°C至0°C露点范围的覆盖,成为半导体厂洁净气体现场露点抽检的实用工具。

灰传感器精准匹配半导体洁净气体需求

半导体制造中使用的高纯氮气和氩气,露点通常要求控制在-40°C甚至更低,对应水汽浓度在ppm级别。SADP-D提供五种传感器可选,其中灰(G)传感器覆盖-80°C至0°C露点范围,对应0至6,000 ppm(v)的水汽浓度,能够覆盖半导体洁净气体的超低露点监控场景。灰传感器精度可达±3°C至±4°C露点,分辨率0.1°C,重复性优于±0.5°C露点,能够准确捕捉洁净气体中的微量残余水分。4位液晶显示屏支持°C和°F自由切换,现场读数清晰直观,便于洁净室操作人员快速判读。

干燥剂头技术,多工艺段快速抽测

半导体厂洁净气体管路分布广泛,从气体站到各工艺机台需要经过多个分配节点。操作人员需要在不同工艺段之间频繁移动检测。SADP-D采用独特的干燥剂头设计,传感器在两次测试之间始终保持干燥状态。操作人员从一个检测点移动到下一个时,无需等待传感器干燥或重新预热,开机5秒即可完成预热,拿起仪器即可对洁净气体进行快速抽查。干燥室两侧的进出气口确保样品气体充分净化后才接触传感器,测量结果更快速、更可靠。

本质安全认证,特殊气体环境安心使用

半导体厂部分区域涉及易燃特种气体,对检测仪器的防爆性能有严格要求。SADP-D通过ATEX II 1 G Ex ia IIC T6 Ga和IECEx Ex ia IIC T6 Ga双重本质安全认证,防护等级达IP66/NEMA 4X,无需任何附加防爆配件即可在相关区域直接使用。这意味着操作人员可以携带仪器直接进入气体站和工艺区,对高纯氮气、氩气出口进行露点现场检测。

自动校准与超长续航,降低运维负担

半导体厂气体检测频次高,仪器需频繁开机使用。SADP-D内置自动校准功能,操作人员只需将传感器暴露在大气中,通过正面电位器即可完成校准,无需专业人员和特殊设备。6节"C"型电池供电,连续运行超过150小时,大幅减少了巡检期间的充电频次。出厂校准证书可追溯至国家物理实验室(NPL),数据具有权威性。

SADP-D以灰传感器覆盖半导体洁净气体超低露点监控需求、以干燥剂头技术实现多工艺段快速抽测、以本质安全认证适配特殊气体环境,是半导体厂高纯气体露点现场监控的可靠之选

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