美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II：超净间与芯片制造的湿度控制守护者

在超净间与芯片制造领域，工艺环境的干燥度对成品率有着决定性影响。

微小的水汽渗透都可能导致晶圆氧化、图案失真，进而造成成品率大幅下滑。为此，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II，凭借其稳定的精度与稳定性，成为**控制超干燥工艺环境的理想工具。

美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II是一款基于冷镜原理的高精度露点/霜点及湿度传感器，已通过国际权威的ISO/IEC 17025:2017与ISO 9001:2015认证，确保了测量数据的准确性与可靠性。

在芯片制造的关键环节，如化学气相沉积（CVD）、光刻、蚀刻等工艺中，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II能够持续、稳定地监测工艺气体中的水汽含量，有效防止因湿度超标引发的晶圆氧化问题。

该设备测量范围广泛，D传感器探头标准露/霜点范围覆盖-20°C至65°C，而高性能的DX传感器探头则可扩展至-40°C至60°C，满足超净间与芯片制造对极端干燥环境的需求。在精度方面，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II表现稳定，露/霜点测量标准精度达±0.2°C，更可选配±0.1°C的高精度选项，确保对微小水汽变化的敏锐捕捉。

其快速响应特性同样令人瞩目，1°C/秒的响应速度能够即时反映工艺气体湿度的变化，为控制系统提供及时、准确的数据支持。此外，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II支持从静态到3000线性英尺/分钟的流速范围，灵活适应不同工艺设备的需求。

在安装与输出方面，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II提供了丰富的选项。

传感器可本地或远程安装于工艺管道关键位置，实时传输数据至中央控制系统。其模拟输出与串行接口，以及可编程报警功能，能够在湿度异常时立即触发警报，助力工程师迅速响应，避免潜在的生产风险。

总之，美国EdgeTech冷镜露点仪DewTrak II以其高精度、高响应性与灵活性，成为超净间与芯片制造领域湿度控制的得力助手，为提升成品率、保障工艺质量提供了坚实的技术支撑。

美国EdgeTech露点仪DewTrak II是一款精密的露点/霜点及湿度传感器，专为工业及过程应用设计，具备ISO/IEC 17025:2017认证和ISO 9001:2015注册资质。

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