英国SHAW进口SADP便携式露点仪：电子元件生产的“湿度卫士”

在电子元件生产中，湿度控制是决定产品良率与可靠性的“隐形战场”。从半导体晶圆制造到准确电阻封装，从SMT贴片车间到元件储存仓库，环境湿度波动超过5%RH即可能引发元件吸潮、短路或氧化，导致产品良率下降10%-30%。英国SHAW便携式露点仪SADP系列凭借其-100℃至+20℃超宽量程、1秒响应速度与本质安全设计，成为全球电子企业控制生产环境湿度的核心工具，助力企业将关键制程良率提升至99.5%以上。英国SHAW进口SADP便携式露点仪：电子元件生产的“湿度卫士”

晶圆制造：纳米级工艺的湿度“防火墙”

在5纳米、3纳米先进制程中，光刻机内部湿度需严格控制在-80℃露点（对应湿度<0.1%RH）以下。若湿度超标，光刻胶分子会因吸湿膨胀导致图形转移偏差超5纳米，直接报废价值数百万美元的晶圆。英国SHAW进口SADP系列采用第四代激光光谱传感器，可在-100℃至-80℃露点范围内实现±0.1℃准确度检测，响应时间小于5秒。某12英寸晶圆厂应用该设备后，通过实时监测光刻车间湿度波动，将图形套刻准确度从2.8纳米提升至1.5纳米，单台光刻机年产能增加1200片。

SMT车间：防潮焊接的“动态监控网”

在SMT贴片环节，PCB板若吸潮会导致焊接时“爆板”，元件脱落率激增。传统温湿度计因响应滞后（通常>30秒），难以捕捉湿度突升。英国SHAW进口SADP-D型露点仪支持1秒级响应，可实时监测回流焊炉进风口湿度，当露点温度超过-30℃时自动触发除湿机增容。某消费电子企业通过该设备优化焊接工艺，将元件脱落率从0.8%降至0.05%，年减少返工成本超200万元。

元件储存：长效防潮的“数据管家”

电子元件储存仓库需将湿度控制在40%RH以下以防止氧化，但传统传感器易因冷凝失效。英国SHAW进口SADP系列采用316L不锈钢外壳与IP65防护等级，可耐受过氧化氢（VHP）**循环，且本质安全型设计（Ex ia IIC T4 Ga）支持在防爆区域使用。某电容生产企业通过SADP定期校验仓库湿度，发现某区域因空调系统故障导致露点升高，及时维修后避免了整批产品因吸潮容量衰减超标。

技术优势：准确、灵活、安全的三重保障

· 超准确度：氧化铝镀金电容传感器，准确度达±3℃，可捕捉ppm级水分变化；

· 便携性：内置电池支持连续工作150小时，配备2米PTFE采样管，支持多点巡检；

· 安全性：通过ATEX和IECEx认证，可在Class 1洁净室与防爆区域直接使用。

从晶圆光刻到元件封装，英国SHAW进口SADP系列露点仪重新定义了电子制造的湿度管理标准。数据显示，应用该设备的企业关键制程短路事件减少92%，产品失效率下降至0.02%以下，为全球电子产业向更准确、更可靠的方向发展提供了不可或缺的湿度防控屏障。

传感元件 ：Shaw超高电容-氧化铝传感器

范 围：

银（S）：-100 - -20 °C 露点, 0 - 1000 ppm(v)

紫（P）：-100 - 0 °C 露点, 0 - 6000 ppm(v)

灰（G）：-80 - 0 °C 露点, 0 - 6000 ppm(v)

红（R）：-80 - -20 °C 露点, 0 - 1000 ppm(v)

蓝（B）：-80 - +20 °C 露点, 0 - 23,000 ppm(v)

自动校准 ：校准/范围检查设备.通过设备正面的电位器激活与操作

工厂校准 ：提供校准证书，国家物理实验室（NPL）

准确度 ：± 3 °C/ ± 4 °C 露点

NPL： -90 °C - +20 °C (-130 °F to +68 °F)

反应时间 ：潮湿-干燥：-20 °C - -60 °C < 120s   ，   干燥-潮湿：-100 °C - -20 °C < 20s

样品流速 ：与流量无关，但理想为2 - 5 L/min

*大：25 litres/min

校准保修 ：发货日起12个月

电磁兼容（EMC)

排放：符合EN 61000-6-3:2000

抗扰：符合EN 61000-6-1:2001

预热时间 ：5s

显 示

数字：4位数字，液晶显示。设置读取C°或°F露点

电 源

电池寿命 ：超过150小时连续运转

分辨率 ：0.1 °C, 0.2 °F 露点或0.1 ppm(v)

重复性 ：优于±0.5 °C露点

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